حول هذا المنتج
ملخص الكتاب يُعد كتاب Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials مرجعاً أساسياً لفهم مختلف التقنيات والأساليب المستخدمة في توصيف المواد. يتعمق هذا الكتاب في طرق التحليل الطيفي التي تشمل الإشعاع الكهرومغناطيسي، والتحليل الضوئي الإلكتروني بالأشعة السينية، ومطيافية الانبعاث الذري، وغيرها. كما يقدم شروحات وافية حول المجهر الإلكتروني الماسح وتقنيات تحضير العينات، بما في ذلك القطع، والتجليخ، والتلميع، والتنميش. تتضمن النقاط الهامة الأخرى التي يتناولها الكتاب أساسيات المجهر، مثل أنواع العدسات، ومبادئ تكوين الصور الضوئية، وعمق المجال، وعمق التركيز. كما يناقش الكتاب طرق التحليل الإحصائي، بما في ذلك دالة التوزيع التراكمي، ودالة كثافة الاحتمال، والتوزيع الغاوسي. بالإضافة إلى ذلك، يتم استكشاف تطبيق حيود الأشعة السينية في تحليل أطوار المواد بالتفصيل.
- المميزات
- يعد كتاب Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials مرجعاً أساسياً لفهم مختلف التقنيات والأساليب المستخدمة في توصيف المواد.
- المؤلف (المؤلفون): Hamid Garmestani & Navid Nasajpour Esfahani
- 518 صفحة
- التكنولوجيا والهندسة، علم المواد
المواصفات
- الأبعاد (الإجمالية)
9.07 بوصة (ارتفاع) × 5.99 بوصة (عرض) × 1.03 بوصة (عمق)
- الوزن
1.9 رطل
- العمر المقترح
22 سنة فما فوق
- عدد الصفحات
518
- النوع
التكنولوجيا والهندسة
- النوع الفرعي
علم المواد
- الناشر
Elsevier
- الموضوع
عام
- التنسيق
غلاف ورقي
- المؤلف
Hamid Garmestani & Navid Nasajpour Esfahani
- اللغة
الإنجليزية